한국광기술원 시험인증지원센터

기초과학에 바탕을 둔 소재 및 소자와 관련된 연구개발 및 생산 공정에서 표면 분석, 결정 구조 분석, 전기적 특성 분석, 광학적 특성 분석 그리고 고장원인 분석 등의 분석지원과 물성과학 분야의 공동연구를 수행합니다.

물성분석분야 - 구분,분석기기,분석기능,비고 정보를 제공하는 표
대상품목	분석장비	분석기능
표면 형상 분석	SEM	물질의 표면/단면 형상 및 크기, 두께측정과 EDX를 통한 물질의 성분 분석 가능(x30~x100,000)
	Tabletop Microscope	물질의 표면 형상을 저진공에서 간편하게 분석 가능(x20~x10,0000)
	AFM	물질의 표면 특성을 원자 단위까지 탐침을 이용하여 측정 분석
전기 특성 분석	Hall effect	비저항, 저항형태 등 전기적 특성 분석
광학 특성 분석	PL mapper	웨이퍼의 발광특성의 균일도 분석
	Low-Temp PL	(상온~저온)에서 온도를 변화시키며 물질의 발광 특성을 분석
	Raman	물질의 조성 및 상분석
결정 구조 분석	XRD	X-선을 이용하여 bulk결정 물질혹은 박막 물질의 결함 및 구조를 비파괴 방식으로 측정

SEM

Hall Effect System

XRD

AFM-Raman

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